横平徳美 - 岡山大学著者一覧 - 岡山大学学術成果リポジトリ

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CMOS floating gate defect detection using I/sub DDQ/ test with DC power supply superposed by AC component

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\| Kobayashi, Toshifumi\| Hondo, Tsutomu\|
発行日	2002-11
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

Performance Improvement of TCP using Performance Enhancing Proxies — Effect of Premature ACK Transmission Timing on Throughput —

フルテキストURL	fulltext.pdf
著者	Osada, Shigeyuki\| Yokohira, Tokumi\| Hui, Wang\| Okayama, Kiyohiko\| Yamai, Nariyoshi\|
キーワード	PEP Premature ACK TCP watermark
備考	Published with permission from the copyright holder. This is the institute's copy, as published in Information and Telecommunication Technologies, 2005. APSITT 2005 Proceedings. 6th Asia-Pacific Symposium on, 9-10 Nov. 2005, Pages 7-12. Publisher URL:http://ieeexplore.ieee.org/search/wrapper.jsp?arnumber=1593429 Copyright © 2005 IEEE. All rights reserved.\|
発行日	2005-11
出版物タイトル	Information and Telecommunication Technologies
開始ページ	7
終了ページ	12
資料タイプ	学術雑誌論文
言語	英語
OAI-PMH Set	岡山大学
DOI	10.1109/APSITT.2005.203622
関連URL	isVersionOf https://doi.org/10.1109/APSITT.2005.203622

A test methodology for interconnect structures of LUT-based FPGAs

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\| Inoue, Tomoo\| Fujiwara, Hideo\|
発行日	1996-11
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

Improvement of detectability for CMOS floating gate defects in supply current test

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\| Kobayashi, Toshifumi\| Hondo, Tsutomu\|
発行日	2003-11
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

A Framework for Mobile Agent Systems with the Capability of Preceding and Following Users

フルテキストURL	fulltext.pdf
著者	Yokohira, Tokumi\| Okayama, Kiyohiko\| Murakami, Takashi\| Takarako, Kayo\|
備考	Published with permission from the copyright holder. This is the institute's copy, as published in Information and Telecommunication Technologies, 2005. APSITT 2005 Proceedings. 6th Asia-Pacific Symposium on, 9-10 Nov. 2005, Pages 89-94. Publisher URL:http://ieeexplore.ieee.org/search/wrapper.jsp?arnumber=1593443 Copyright © 2005 IEEE. All rights reserved.\|
発行日	2005-11
出版物タイトル	Information and Telecommunication Technologies
開始ページ	89
終了ページ	94
資料タイプ	学術雑誌論文
言語	英語
OAI-PMH Set	岡山大学
論文のバージョン	publisher
DOI	10.1109/apsitt.2005.203636

A framework for mobile agent systems with the capability of preceding and following users

フルテキストURL	fulltext.pdf
著者	Yokohira, Tokumi\| Okayama, Kiyohiko\| Murakami, Takashi\| Takarako, Kayo\|
備考	Published with permission from the copyright holder. This is the institute's copy, as published in Information and Telecommunication Technologies, 2005. APSITT 2005 Proceedings. 6th Asia-Pacific Symposium on, 09-10 Nov. 2005, Pages 89-94. Publisher URL:http://ieeexplore.ieee.org/search/wrapper.jsp?arnumber=1593443 Copyright © 2005 IEEE. All rights reserved.\|
発行日	2005-11
出版物タイトル	Information and Telecommunication Technologies
開始ページ	89
終了ページ	94
資料タイプ	学術雑誌論文
言語	英語
OAI-PMH Set	岡山大学
論文のバージョン	publisher
DOI	10.1109/apsitt.2005.203636

Fault tolerant packet-switched network design and Its sensitivity

著者	Yokohira, Tokumi\| Sugano, Masashi\| Nishida, Takeshi\| Miyahara, Hideo\|
発行日	1991-05-07
出版物タイトル	Reliability
巻	40巻
号	4号
資料タイプ	学術雑誌論文

Testing for the programming circuit of LUT-based FPGAs

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\| Inoue, Tomoo\| Fujiwara, Hideo\|
発行日	1997-11-17
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

A minimal-state processing search algorithm for satisfiability problems

著者	Funabiki, Nobuo\| Yokohira, Tokumi\| Nakanishi, Toru\| Tajima, Shigeto\| Higashino, Teruo\|
発行日	2001-10
出版物タイトル	Systems
巻	4巻
資料タイプ	学術雑誌論文

Minimum test sets for locally exhaustive testing of combinational circuits with five outputs

著者	Yokohira, Tokumi\| Shimizu, Toshimi\| Michinishi, Hiroyuki\| Sugiyama, Yuji\| Okamoto, Takuji\|
発行日	1994-11-15
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

Minimum Verification test set for combinational circuit

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\|
発行日	1992-11-26
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

A test methodology for interconnect structures of LUT-based FPGAs

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\| Inoue, Tomoo\| Fujiwara, Hideo\|
発行日	1996-11
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

Proof that akers' algorithm for locally exhaustive testing gives minimum test sets of combinational circuits with up to four outputs

著者	Michinishi, Hiroyuki\| Yokohira, Tokumi\| Okamoto, Takuji\|
発行日	1993-11
出版物タイトル	Test Symposium
資料タイプ	学術雑誌論文

Functional Testing of an ALU

JaLCDOI	10.18926/15505
フルテキストURL	Mem_Fac_Eng_OU_24_2_89.pdf
著者	横平徳美\|
抄録	This paper considers a test set for an ALU with look ahead carry generators(LCGs). The ALU is logically partitioned into two groups of blocks, the group of one-bit operation units and LCG group. Each group is tested in parallel and exhaustively, independent of the other. And an easily testable design is applied to several blocks for decreasing the number of the input combinations of them. Under the easily testable design, a minimum test set for each group is generated, and the upper and lower bounds for a minimum test for the ALU are derived. The difference of the lower and upper bounds is not large, and a test set whose number of test vectors is equal to the upper bound can be easily obtained as the union of minimum test sets for two groups. Hence, the union can be used as a complete and practical test set for the ALU.
出版物タイトル	Memoirs of the Faculty of Engineering, Okayama University
発行日	1990-03-29
巻	24巻
号	2号
開始ページ	89
終了ページ	98
ISSN	0475-0071
言語	英語
論文のバージョン	publisher
NAID	120002307212