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ID 8099
Eprint ID
8099
フルテキストURL
Thumnail K002342.pdf 146 KB
タイトル(別表記)
SiC及びSi/遷移金属(Ti, Ni)薄膜系の軟X線放出分光法及び光電子放出像による評価
著者
Labis, Joselito Puzon 岡山大学
備考
掲載順位 47
発行日
2002-03-25
出版物タイトル
資料タイプ
学位論文
学位授与番号
甲第2342号
学位授与年月日
2002-03-25
学位・専攻分野
博士(理学)
授与大学
岡山大学
言語
Japanese
OAI-PMH Set
岡山大学
論文のバージョン
none
査読
不明